本发明涉及但不限于摄像装置测试及使用校准领域,尤其涉及一种测量拍摄设备的光轴偏移量的方法、电子设备、系统和存储介质。
背景技术:
1、具有变焦镜头的监控摄像机在生产使用中,在镜头变倍时,因为镜头的光轴中心发生偏移,导致广角时拍摄画面的中心与长焦时拍摄画面的中心会发生变化。如图1中长焦下实景图像中标记的成像中心(实线交叉点)和对焦中心(目标物)位置重合,当设备变倍到广角时,如图2所示,成像中心(实线交叉点)不变,但是原长焦中心位置(虚线交叉点)发生了较大偏差。也就是说,当某倍率下处于画面正中心的目标,在镜头变倍放大或缩小后,该目标不再处于画面正中心,而往画面的某一方向出现了偏移,这就是镜头光轴偏移现象。生产应用中,镜头光轴偏移造成成像物体的偏移,影响球机、云台监控设备的3d定位等业务功能,也会影响设备变倍的使用体验。
2、镜头光轴中心,从镜头的光学设计上来说,理论上不存在偏差,但是实际生产及装配无法实现零偏差,一般镜头会在规格书中标记中心偏移参数,常见参数有5.0%。从整个成像系统上看,一般还与镜头、传感器的装配相关,成像面平面与镜头光轴无法实现完全垂直也会导致镜头光轴偏差被放大。
3、因此,对于实际生产应用中的可变焦的视频监控设备,如何有效控制及纠正光轴偏差,是提升业务功能、改善设备使用体验的关键步骤。
技术实现思路
1、本公开实施例提供一种测量光轴偏移量的方法、电子设备、系统和存储介质,利用测试图进行拍摄设备的部分采样镜头倍率下光轴偏移量的确定,在提高测量准确性的同时减小了测量样本量。依此确定的拍摄设备的光轴偏移量将用于进行实际生产应用中获取拍摄图像时进行光轴偏移补偿,提升输出图像的整体质量。
2、一方面,本公开实施例提供一种测量光轴偏移量的方法,包括:
3、从拍摄设备支持的镜头倍率中选择n个采样镜头倍率,n为大于或等于1的整数;
4、针对每一个采样镜头倍率,分别执行以下步骤确定对应的光轴偏移量:
5、采用该采样镜头倍率,针对预设的测试图获取采集图像;确定测试图的中心点对应在所述采集图像上的位置,记为测试图中心位置;根据所述测试图中心位置和所述采集图像,确定该采样镜头倍率对应的光轴偏移量。
6、另一方面,本公开实施例还提供一种电子设备,包括:
7、一个或多个处理器;
8、存储装置,用于存储一个或多个程序,
9、当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如本公开任一实施例所述的测量光轴偏移量的方法。
10、另一方面,本公开实施例还提供一种测量光轴偏移量的系统,包括:
11、测量光轴偏移量的装置、可变焦拍摄设备和平行光管;
12、所述装置包括:采样镜头倍率确定模块和光轴偏移量确定模块;
13、其中,所述采样镜头倍率确定模块设置为,从所述可变焦拍摄设备支持的镜头倍率中选择n个采样镜头倍率,n为大于或等于1的整数;
14、所述光轴偏移量确定模块设置为,针对每一个采样镜头倍率,分别执行以下步骤确定对应的光轴偏移量:
15、采用该采样镜头倍率,通过所述平行光管的增据透镜,针对所述平行光管中预设的测试图获取采集图像;确定测试图的中心点对应在所述采集图像上的位置,记为侧视图中心位置;根据所述测试图中心位置和所述采集图像,确定该采样镜头倍率对应的光轴偏移量;
16、所述测试图设置在所述平行光管的背光板内侧面上。
17、另一方面,本公开实施例还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如本公开任一实施例所述的测量光轴偏移量的方法。
18、本发明实施例提供的方案,能够快速准确测定拍摄设备的不同镜头倍率所对应的光轴偏移量,进一步配合光轴偏移补偿算法能够解决镜头因光轴偏移带来的业务及变倍效果问题。
19、在阅读并理解了附图和详细描述后,可以明白其他方面。
1.一种测量光轴偏移量的方法,其特征在于,包括:
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,
3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,
5.如权利要求1或4所述的方法,其特征在于,
6.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,
7.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,
8.一种电子设备,其特征在于,包括:
9.一种测量光轴偏移量的系统,其特征在于,包括:
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述的测量光轴偏移量的方法。