多盘光纤多套设备的同步测试装置及其测试方法与流程

文档序号:35201587发布日期:2023-08-22 07:10阅读:36来源:国知局
多盘光纤多套设备的同步测试装置及其测试方法与流程

本发明涉及光纤测试,特别是涉及一种多盘光纤多套设备的同步测试装置及其测试方法。


背景技术:

1、当前,光纤性能测试常用测试设备包括光纤色散测试仪、光时域反射仪和偏振模色散测试仪等。测试设备的测试手段主要是通过人工接入样品光纤,每盘待测样品光纤的两端分别接入不同的测试设备测试多个参数,每盘样品光纤的两端需分别接入测试设备,样品光纤接入测试设备需要借助光纤活动连接器。每盘样品光纤重复接入不同测试设备,接入每套测试设备的样品光纤都需要判断接入是否正常,如有问题要重新切割样品光纤的端面,再次验证是否接入测试设备,所以,样品光纤需要多次接入、重复操作、依次测试,这就造成样品光纤测试的操作步骤繁杂、效率低下。

2、因此,多套光纤测试设备同步测试多盘光纤是当前光纤检测领域的迫切需要解决的问题。


技术实现思路

1、鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明要解决的技术问题在于提供一种结构简单、检测快速的多盘光纤多套设备的同步测试装置及其测试方法。

2、为了解决上述技术问题,本发明提供一种多盘光纤多套设备的同步测试装置,包括:

3、光开关矩阵,所述光开关矩阵上具有多个设备侧光路接口和多个光纤侧光路接口;每两个所述设备侧光路接口用于分别连接一套测试设备的两个端口,且所述测试设备的端口通过光纤连接器连接所述设备侧光路接口;每两个所述光纤侧光路接口用于分别连接一盘样品光纤的两个端头,且所述样品光纤的端头通过光纤连接器连接所述光纤侧光路接口;所述设备侧光路接口的数量等于所述光纤侧光路接口的数量;

4、光开关驱动电路,每个所述光开关矩阵的电路端与所述光开关驱动电路的输出端连接;

5、控制器,与所述光开关驱动电路的输入端连接;

6、按键电路,所述按键电路的输入端连接多个按钮件,所述按键电路的输出端与所述控制器连接。

7、优选地,所述光纤连接器为光纤法兰盘。

8、优选地,同步测试装置,还包括显示电路;所述显示电路与所述控制器连接。

9、本发明还涉及一种多盘光纤多套设备的同步测试方法,采用所述的多盘光纤多套设备的同步测试装置;包括以下步骤:

10、1)将多套测试设备与光开关矩阵连接,多盘样品光纤与光开关矩阵连接;

11、2)按下不同的按钮件,按键电路接收到不同的按键信号,按键电路将接收到的按键信号输送给控制器,使得所述控制器通过光开关驱动电路驱动光开关矩阵切换不同的光路通道,以实现样品光纤与不同的测试设备连通,完成多盘样品光纤与多套测试设备的自动切换;

12、3)多套测试设备开始对多盘样品光纤同步测试。

13、如上所述,本发明的多盘光纤多套设备的同步测试装置及其测试方法,具有以下有益效果:

14、本发明使用时,按下不同的按钮件,按键电路接收到不同的按键信号,按键电路将接收到的按键信号输送给控制器,所述控制器通过光开关驱动电路驱动光开关矩阵切换不同的光路通道,以实现样品光纤与不同的测试设备连通,完成多盘样品光纤与多套测试设备的自动切换;

15、多盘样品光纤同时接入该同步测试装置,多套测试设备同时接入该同步测试装置;按下按钮件选择不同测试状态,控制器通过光开关驱动电路触发光开关矩阵切换到不同的光路通道;多套测试设备通过按钮件的选择能够自动进行切换测试不同的样品光纤,切换完成后,每套设备对应一盘样品光纤,实现多盘样品光纤、多套测试设备的同步测试。

16、该同步测试装置是光纤测试自动切换装置,该同步测试装置结构简单,且能够满足快速简单地进行多盘样品光纤、多套测试设备的同步测试的要求。



技术特征:

1.一种多盘光纤多套设备的同步测试装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的多盘光纤多套设备的同步测试装置,其特征在于:所述光纤连接器为光纤法兰盘。

3.根据权利要求1所述的多盘光纤多套设备的同步测试装置,其特征在于:还包括显示电路;所述显示电路与所述控制器连接。

4.一种多盘光纤多套设备的同步测试方法,采用如权利要求1至3中任意一项所述的多盘光纤多套设备的同步测试装置;其特征在于,包括以下步骤:


技术总结
本发明提供一种多盘光纤多套设备的同步测试装置及其测试方法,包括:光开关矩阵,光开关矩阵上具有多个设备侧光路接口和多个光纤侧光路接口;每两个设备侧光路接口用于分别连接一套测试设备的两个端口;每两个所述光纤侧光路接口用于分别连接一盘样品光纤的两个端头;光开关驱动电路,每个光开关矩阵的电路端与光开关驱动电路的输出端连接;控制器与所述光开关驱动电路的输入端连接;按键电路,按键电路的输入端连接多个按钮件,按键电路的输出端与控制器连接。该同步测试装置结构简单,且能够满足快速简单地进行多盘样品光纤、多套测试设备的同步测试的要求。

技术研发人员:刘杰,涂建坤,吴鲲,朱丰
受保护的技术使用者:上海电缆研究所有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/14
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