半导体装置和电子设备的制作方法

本发明涉及半导体装置和电子设备。

背景技术：

1、在专利文献1中记载了如下的扬声器故障报知装置：通过控制部，测量伴随扬声器的构造上的变化而变化的阻抗，判别测量出的阻抗是否在规定的范围内，在判别为阻抗不在该范围内的情况下，报知扬声器发生了故障。

2、专利文献1：日本特开2012-199854号公报

3、在专利文献1所记载的扬声器故障报知装置中，在测量扬声器的阻抗时，控制部不使用使模拟声音信号的电平增减并向扬声器输出的放大器，而经由专用的物理量测量器向扬声器施加规定频率的交流电压，并且测量在扬声器中流过的电流，通过电压/电流求出阻抗。因此，在专利文献1所记载的扬声器故障报知装置中，需要专用的物理量测量器，以对扬声器施加规定频率的交流电压来测量电流，从而用于测量扬声器的阻抗的电路变大。

技术实现思路

1、本发明的半导体装置的一个方式具有：

2、第1输出端子，其与声音再现装置的第1端子连接；

3、第2输出端子，其与所述声音再现装置的第2端子连接；

4、调制电路，其对基于声源信号的信号进行调制而输出第1调制信号和第2调制信号；

5、第1放大电路，其在第1工作模式下，将放大所述第1调制信号而得到的第1放大信号输出到所述第1输出端子；

6、第2放大电路，其在所述第1工作模式下，将放大所述第2调制信号而得到的第2放大信号输出到所述第2输出端子；

7、测试信号生成电路，其在第2工作模式下，对在预先设定的频带使频率变化而得到的测试信号进行调制而生成第3调制信号和第4调制信号；以及

8、峰值频率检测电路，其在所述第2工作模式下，测量所述第1输出端子与所述第2输出端子的电位差，检测包含峰值频率的频率范围，所述峰值频率是所述声音再现装置的阻抗成为峰值的所述测试信号的频率，

9、所述第1放大电路在所述第2工作模式下，将放大所述第3调制信号而得到的第3放大信号输出到所述第2输出端子，

10、所述第2放大电路在所述第2工作模式下，将放大所述第4调制信号而得到的第4放大信号输出到所述第2输出端子，

11、所述第1放大电路具有各输出端子与所述第1输出端子连接的多个反相电路，

12、所述第2放大电路具有各输出端子与所述第2输出端子连接的多个反相电路，

13、在所述第1工作模式下，向所述第1放大电路所具有的所述多个反相电路的各输入端子输入所述第1调制信号，向所述第2放大电路所具有的所述多个反相电路的各输入端子输入所述第2调制信号，

14、在所述第2工作模式下，向所述第1放大电路所具有的所述多个反相电路的一部分反相电路的各输入端子输入所述第3调制信号，所述第1放大电路所具有的所述多个反相电路的另一部分反相电路的各输出端子成为高阻抗，向所述第2放大电路所具有的所述多个反相电路的一部分反相电路的各输入端子输入所述第4调制信号，所述第2放大电路所具有的所述多个反相电路的另一部分反相电路的各输出端子成为高阻抗。

15、本发明的电子设备的一个方式具有：

16、所述半导体装置的一个方式；以及

17、所述声音再现装置。

技术特征：

1.一种半导体装置，其中，该半导体装置具有：

2.根据权利要求1所述的半导体装置，其中，

3.根据权利要求2所述的半导体装置，其中，

4.根据权利要求3所述的半导体装置，其中，

5.根据权利要求1所述的半导体装置，其中，

6.根据权利要求1所述的半导体装置，其中，

7.根据权利要求1所述的半导体装置，其中，

8.一种电子设备，其中，该电子设备具有：

技术总结
半导体装置和电子设备。在半导体装置中，在第1工作模式下，向第1放大电路所具有的多个反相电路输入所述第1调制信号，向第2放大电路所具有的多个反相电路输入所述第2调制信号，在第2工作模式下，测试信号生成电路对测试信号进行调制而生成第3调制信号和第4调制信号，向所述第1放大电路所具有的所述多个反相电路的一部分输入所述第3调制信号，另一部分的输出成为高阻抗，向所述第2放大电路所具有的所述多个反相电路的一部分输入所述第4调制信号，另一部分的输出成为高阻抗，峰值频率检测电路检测包含声音再现装置的阻抗成为峰值的所述测试信号的频率的频率范围。

技术研发人员：片山贵夫,福泽晃弘,倍赏文仁,野中勉
受保护的技术使用者：精工爱普生株式会社
技术研发日：
技术公布日：2024/3/31