OTA测试装置的制作方法

本申请涉及一种ota测试装置。

背景技术：

1、目前，所知的ota(over the air，空中下载技术)测试所用的探头的频段并不能达到很宽，故一般将高频探头与低频探头搭配使用。低频探头的频率一般在400mhz-8ghz，高频探头的频率一般在8ghz-54ghz。

2、传统的ota系统一般为包含多个低频探头的多探头系统，这些低频探头所构成的采集环的位置固定、而无法移动，这样，采集环会占据测试台的最顶点位置，从而导致增加的高频探头无法采集到被测物正顶侧(0°方位)的辐射数据。

技术实现思路

1、有鉴于此，本申请提出一种ota测试装置，其能够容易地采集被测物在多个角度的高频辐射数据和低频辐射数据，尤其是受测物正顶侧的高频辐射数据和低频辐射数据。

2、一种ota测试装置，包括：

3、多个低频探头，沿圆周方向依次间隔地排列在第一圆周上；

4、高频探头，能够沿一圆弧路径移动，且可被选择性地定位在所述圆弧路径上的多个位置中的任一个位置；

5、受测物承载台，能够在第一位置和第二位置之间移动，且可被选择性地定位在所述第一位置或所述第二位置，处在所述第一位置的所述受测物承载台位于所述第一圆周的圆心区域，处在所述第二位置的所述受测物承载台位于所述圆弧路径的圆心区域；

6、在所述受测物承载台位于所述第二位置的情况下，所述高频探头能够沿所述圆弧路径移动至并定位在所述受测物承载台的正上方的位置。

7、在一些可能的实现方式中，所述第一圆周的半径与所述圆弧路径的半径基本相等，所述第一圆周所在的第一平面与所述圆弧路径所在的第二平面与垂直。

8、在一些可能的实现方式中，所述ota测试装置还包括：

9、第一支撑构件，为竖直布置且底部带有开口部的圆环形，所述多个低频探头位于所述第一支撑体的内周面处；

10、第一导轨，设置在所述开口部处，且在垂直于第一平面的方向上延伸，所述第一平面为所述第一圆周所在的平面；

11、第二支撑构件，支撑所述受测物承载台，且可移动地连接所述第一导轨，通过使所述第二支撑构件沿所述第一导轨移动实现所述受测物承载台在所述第一位置和所述第二位置之间的移动。

12、在一些可能的实现方式中，所述多个低频探头沿所述圆周方向等间隔地排列，所述开口部的沿所述圆周方向的尺寸，不大于相邻两个所述低频探头之间的间隔。

13、在一些可能的实现方式中，所述ota测试装置还包括：

14、第二导轨，为从上端部延伸至下端部的圆弧形，所述上端部与所述第一支撑构件的轴向一侧的侧表面邻接，所述下端部与所述开口部相对且彼此隔开，从而为所述第二支撑构件的移动提供空间；

15、所述高频探头经由连接架可移动地连接到所述第二导轨，所述第二导轨限定所述圆弧路径。

16、在一些可能的实现方式中，在所述受测物承载台位于所述第二位置、所述高频探头位于所述上端部的情况下，所述高频探头位于所述受测物承载台的正上方。

17、在一些可能的实现方式中，所述ota测试装置还包括：

18、第一电机，用于驱动所述第二支撑构件沿所述第一导轨移动。

19、第二电机，用于驱动所述高频探头沿所述第二导轨移动。

20、在一些可能的实现方式中，所述弧形路径的弧度为165°。

21、在一些可能的实现方式中，所述ota测试装置还包括：

22、第一吸波棉，设置于所述低频探头处；

23、第二吸波棉，设置于所述高频探头处。

24、在一些可能的实现方式中，所述高频探头是频率为8ghz-54ghz的毫米波探头，所述低频探头的频率为400mhz-8ghz2。

25、本申请提供的这种ota测试装置，其能够容易地采集被测物在多个角度的高频辐射数据和低频辐射数据，特别地，能够互不干扰地采集被测物正顶侧的低频和高频辐射数据。

技术特征：

1.一种ota测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的ota测试装置，其特征在于，所述第一圆周的半径与所述圆弧路径的半径基本相等，所述第一圆周所在的第一平面与所述圆弧路径所在的第二平面垂直。

3.根据权利要求1所述的ota测试装置，其特征在于，所述ota测试装置还包括：

4.根据权利要求3所述的ota测试装置，其特征在于，所述多个低频探头沿所述第一圆周的圆周方向等间隔地排列，所述开口部的沿所述第一圆周的圆周方向的尺寸，不大于相邻两个所述低频探头之间的间隔。

5.根据权利要求3所述的ota测试装置，其特征在于，所述ota测试装置还包括：

6.根据权利要求5所述的ota测试装置，其特征在于，在所述受测物承载台位于所述第二位置、所述高频探头位于所述上端部的情况下，所述高频探头位于所述受测物承载台的正上方。

7.根据权利要求5所述的ota测试装置，其特征在于，所述ota测试装置还包括：

8.根据权利要求5所述的ota测试装置，其特征在于，所述弧形路径的弧度为165°。

9.根据权利要求1所述的ota测试装置，其特征在于，所述ota测试装置还包括：

10.根据权利要求1至9中任一项所述的ota测试装置，其特征在于，所述高频探头是频率为8ghz-54ghz的毫米波探头，所述低频探头的频率为400mhz-8ghz。

技术总结
本申请涉及一种OTA测试装置，其能够容易地采集被测物在多个角度的高频辐射数据和低频辐射数据，尤其是受测物正顶侧的高频辐射数据和低频辐射数据。OTA测试装置包括：多个低频探头，沿圆周方向依次间隔地排列在第一圆周上；高频探头，能够沿一圆弧路径移动，可被选择性地定位在圆弧路径上的多个位置中的任一个位置；受测物承载台，能够在第一位置和第二位置之间移动，且可被选择性地定位在所述第一位置或所述第二位置，处在第一位置的受测物承载台位于第一圆周的圆心区域，处在第二位置的受测物承载台位于圆弧路径的圆心区域；在受测物承载台位于第二位置的情况下，高频探头能够沿圆弧路径移动至并定位在受测物承载台的正上方的位置。

技术研发人员：赵鲁豫,凡泽兴,张璐
受保护的技术使用者：西安朗普达通信科技有限公司
技术研发日：20230712
技术公布日：2024/3/27