一种高速误码测试仪的制作方法
【专利摘要】本实用新型提供一种高速误码测试仪，包括时钟信号单元、LCD单元、微控制单元、电源单元、码型信号输出与检测单元、信号优化单元和待检测光单元，时钟信号单元分别电连接微控制单元、电源单元和码型信号输出与检测单元，LCD单元连接微控制单元，微控制单元分别电连接时钟信号单元、LCD单元、电源单元和码型信号输出与检测单元，电源单元分别连接码型信号输出与检测单元和信号优化单元，码型信号输出与检测单元分别电连接信号优化单元和待检测光单元，本实用新型设计合理，可靠性高，操作简单，价格较低，能够满足基本的误码测试需求，准确率高，有很好的应用前景。
【专利说明】
一种高速误码测试仪
技术领域
[0001]本实用新型涉及，具体涉及一种高速误码测试仪。
【背景技术】
[0002]在高速通信系统中，误码测试仪作为检验数据传输质量的工具有着重要作用。随着1Gbps、40Gbps光模块与AOC的发展，市场上对价格适中，操作简单的误码仪的需求不断增长。虽然目前国内外对高速率误码仪的研究都有了一定的突破，但市场上多为国外产品，其价格高昂，操作复杂，维护困难。至于国内的误码仪产品相对较少，而且已推向市场的产品大都在测试速率、人机交互以及其它各项性能指标都未能达到国际水平。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的是为解决上述不足，提供一种高速误码测试仪。
[0004]本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的:
[0005]—种高速误码测试仪，包括时钟信号单元、IXD单元、微控制单元、电源单元、码型信号输出与检测单元、信号优化单元和待检测光单元，时钟信号单元分别电连接微控制单元、电源单元和码型信号输出与检测单元，IXD单元连接微控制单元，微控制单元分别电连接时钟信号单元、IXD单元、电源单元和码型信号输出与检测单元，电源单元分别连接码型信号输出与检测单元和信号优化单元，码型信号输出与检测单元分别电连接信号优化单元和待检测光单元。
[0006]微控制单元采用STM32F103RBT6单片机芯片。
[0007]电源单元包括220V市电、5V适配器、5V电源、第一 LDO电源芯片、DC/DC电源芯片、3.3V电源、第二LDO电源芯片、第三LDO电源芯片、1.8V电源和1.2V电源，220V市电经过5V适配器转化为5V电源，5V电源经过第一 LDO电源芯片转化为3.3V电源，5V电源经过DC/DC电源芯片转化为2.5V电源，2.5V电源分别经过第二LDO电源芯片和第三LDO电源芯片转化为1.8V电源和1.2V电源。
[0008]码型信号输出与检测单元采用VSC8248芯片。
[0009]本实用新型具有如下有益的效果:
[0010]本实用新型设计合理，可靠性高，操作简单，价格较低，能够满足基本的误码测试需求，准确率高，有很好的应用前景。
【附图说明】
[0011]图1为本实用新型的整体结构示意图；
[0012]图2为本实用新型的电源单元结构图；
[0013]图3为本实用新型的5V转3.3V电路；
[0014]图4为本实用新型的时钟信号单元电路；
[0015]图5为本实用新型的信号优化单元电路；
[0016]图6为本实用新型的IXD单元电路。
【具体实施方式】
[0017]下面结合附图对本实用新型作进一步的说明:
[0018]如图1所示，一种高速误码测试仪，包括时钟信号单元1、LCD单元2、微控制单元3、电源单元4、码型信号输出与检测单元5、信号优化单元6和待检测光单元7，时钟信号单元I分别电连接微控制单元3、电源单元4和码型信号输出与检测单元5，IXD单元2连接微控制单元3，微控制单元3分别电连接时钟信号单元1、LCD单元2、电源单元4和码型信号输出与检测单元5，电源单元4分别连接码型信号输出与检测单元5和信号优化单元6，码型信号输出与检测单元5分别电连接信号优化单元6和待检测光单元7，微控制单元3采用STM32F103RBT6单片机芯片。
[0019]电源单元包括220V市电8、5V适配器9、5V电源10、第一 LDO电源芯片11、DC/DC电源芯片12、3.3V电源13、第二 LDO电源芯片14、第三LDO电源芯片15、1.8V电源16和1.2V电源17，220V市电8经过5V适配器9转化为5V电源10，5V电源10经过第一 LDO电源芯片11转化为3.3V电源13，5V电源10经过DC/DC电源芯片12转化为2.5V电源，2.5V电源分别经过第二 LDO电源芯片14和第三LDO电源芯片15转化为1.8V电源16和1.2V电源17。
[0020]码型信号输出与检测单元采用VSC8248芯片。
[0021 ] 整个系统共需要有5V、3.3V、1.8V和1.2V这4种电压，系统采用5V适配器(220V市电转5VDC开关电源)进行输人，一路接LDO稳压至3.3V；另一路通过DC/DC将5V转为2.5V，再接2个LDO分别稳压至1.8V和1.2V。5V转3.3V芯片输出端通过68yF的钽电容进行滤波，然后输出3路的3.3V电压对系统其它模块供电。
[0022]时钟信号电路主要由Si570时钟芯片与CDCP1803RGET时钟分配芯片组成。STM32通过I2C接口控制Si570芯片输出相应频率的时钟信号，信号通过分配芯片⑶CP1803RGET后输出相问频率的两路差分信号。一路REFCLK土作为VSC8248的参考时钟源的输人，另一路作为同步时钟接至SMA接口输出。
[0023]码型信号输出与检测单元和信号优化单元电路主芯片GN2010E由3.3V电源供电，并联的去耦电容起到减少电源噪声的作用。工作时只用到TX端，码型信号通过差分线TXSDIP/N端进人，串联的电容能隔断直流。此时STM32通过SDA及SCL控制调整参数，实现对信号的⑶R功能，然后经过优化的信号从输出端TXSD0P/N传输至外围SMA头输出。
[0024]工作原理:系统中的触控LCD收到用户对误码测试仪参数设置的信息，包括设定系统的4个通道的工作速率与输出伪随机码型等。设定完毕后STM32读取参数并通过I2C通信接口写人时钟芯片Si570使其输出相应时钟信号到VSC8248，然后STM32再控制VSC8248使其输出相应速率的伪随机码信号。该高速电信号通过信号优化电路，传输至被测模块环回传输后，送回VSC8248的接收通道进行检测，然后由其记录误码数。STM32读取误码数后计算出误码率，最终让其显7K在IXD上。
【主权项】
1.一种高速误码测试仪，包括时钟信号单元、LCD单元、微控制单元、电源单元、码型信号输出与检测单元、信号优化单元和待检测光单元，其特征在于:时钟信号单元分别电连接微控制单元、电源单元和码型信号输出与检测单元，LCD单元连接微控制单元，微控制单元分别电连接时钟信号单元、LCD单元、电源单元和码型信号输出与检测单元，电源单元分别连接码型信号输出与检测单元和信号优化单元，码型信号输出与检测单元分别电连接信号优化单元和待检测光单元。2.根据权利要求1所述的一种高速误码测试仪，其特征在于:所述的微控制单元采用STM32F103RBT6单片机芯片。3.根据权利要求1所述的一种高速误码测试仪，其特征在于:所述的电源单元包括220V市电、5V适配器、5V电源、第一 LDO电源芯片、DC/DC电源芯片、3.3V电源、第二 LDO电源芯片、第三LDO电源芯片、1.8V电源和1.2V电源，220V市电经过5V适配器转化为5V电源，5V电源经过第一 LDO电源芯片转化为3.3V电源，5V电源经过DC/DC电源芯片转化为2.5V电源，2.5V电源分别经过第二LDO电源芯片和第三LDO电源芯片转化为1.8V电源和1.2V电源。4.根据权利要求1所述的一种高速误码测试仪，其特征在于:所述的码型信号输出与检测单元采用VSC8248芯片。
【文档编号】H04L12/26GK205490607SQ201620051379
【公开日】2016年8月17日
【申请日】2016年1月12日
【发明人】郭强, 王纬武, 吴艳艳, 韩跃龙, 邢利科, 李锐君
【申请人】郑州大学西亚斯国际学院