一种新型测试座的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及测试设备技术领域，尤其涉及一种采用上下金属托盘固定探针避免信号干扰的测试设备。
【背景技术】
[0002]目前，由于I/O对频宽的需求愈来愈高，高频讯号在传输上需要具有较高的传输质量；存在的问题是:高频信号容易受外界干扰波的影响，以及相邻的信号键的串扰(crosstalk)问题等，导致信号的失真，衰减，反射。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的在于提供一种采用金属托盘固定探针的、防止相邻探针之间不会发生信号串扰的新型测试座。
[0004]为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案为:一种新型测试座，包括:底座，设于底座上的托盘，底部金属托盘，由两根或以上的探针组成的探针组，上部金属托盘，上盖；所述底部金属托盘设于托盘的上表面内，上部金属托盘设于上盖的底部表面内，所述探针组的下端穿过底部金属托盘后位于托盘内，探针组的上端穿过上部金属托盘后位于上盖内；所述上部金属托盘及底部金属托盘位于底座与上盖相结合后形成的空间内。
[0005]还进一步包括一限位块，所述限位块嵌设于上盖上表面内的下沉座内。
[0006]所述托盘的上表面内设有方形下沉座，底部金属托盘设于方形下沉座内。
[0007]所述方形下沉座底部设有穿孔，且底部的两侧及两端边缘处均设有探针孔。
[0008]设于上盖内的下沉座的底部设有穿孔，且下沉座底部设有复数个探针孔，所述探针孔围合而成一个圈体，所述穿孔位于这个圈体内。
[0009]本实用新型的有益技术效果:由于测试座内部测试探针采用上部金属托盘及底部金属托盘，二者用铜制成，使得相邻I/O输出的信号通过探针(probe)时不会产生串扰(crosstalk)，并吸收外界电磁场对高频信号的影响，从而保证高频信号的输出准确性。
【附图说明】
[00?0]图1为本实用新型的分解不意图；
[0011]图2为本实用新型的立体示意图。
【具体实施方式】
[0012]为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面结合附图和实施方式对本实用新型作进一步的详细说明。
[0013]如图1-2所示，测试座包括:底座I，设于底座上的托盘2，底部金属托盘3，由两根或以上的探针组成的探针组4，上部金属托盘5，上盖6;所述底部金属托盘3设于托盘2的上表面内，上部金属托盘5设于上盖6的底部表面内；所述上部金属托盘5及底部金属托盘3位于底座I与上盖6相结合后形成的空间内；上盖和底座通过螺栓7及螺帽8可分离连接。
[0014]还进一步包括一限位块9，所述限位块9嵌设于上盖上表面内的下沉座61内。
[0015]所述托盘2的上表面内设有方形下沉座21，底部金属托盘3设于方形下沉座21内。
[0016]所述方形下沉座21底部设有穿孔22，且底部的两侧及两端边缘处均设有探针孔23。所述探针组4的下端穿过底部金属托盘3后位于托盘内，即探针组的底部位于穿孔22及探针孔23内。
[0017]设于上盖6内的下沉座61的底部设有穿孔62，且下沉座底部设有复数个探针孔63，所述探针孔围合而成一个圈体，所述穿孔62位于这个圈体内。探针组4的上端穿过上部金属托盘5后位于上盖6内，即探针组4的上端位于下沉座61的底部穿孔62及探针孔63内。
[0018]上部金属托盘5及底部金属托盘3内均设有供探针组4穿过并容纳探针组内的探针其中一段的探针孔。
[0019]底座I上设有第一定位PIN 10，第一定位PIN 10的上端设于上盖6的定位孔64内；上盖6内的下沉座61的底部设有第二定位PIN 11，第二定位PIN 11的上端位于限位块9内。
[0020]虽然通过实施例描绘了本发明创造，本领域普通技术人员知道，本实用新型有许多变形和变化而不脱离本实用新型的精神，希望所附的权利要求包括这些变形和变化而不脱离本实用新型的精神。
【主权项】
1.一种新型测试座，其特征在于，包括:底座，设于底座上的托盘，底部金属托盘，由两根或以上的探针组成的探针组，上部金属托盘，上盖;所述底部金属托盘设于托盘的上表面内，上部金属托盘设于上盖的底部表面内，所述探针组的下端穿过底部金属托盘后位于托盘内，探针组的上端穿过上部金属托盘后位于上盖内；所述上部金属托盘及底部金属托盘位于底座与上盖相结合后形成的空间内。2.如权利要求1所述的一种新型测试座，其特征在于，还进一步包括一限位块，所述限位块嵌设于上盖上表面内的下沉座内。3.如权利要求1所述的一种新型测试座，其特征在于，所述托盘的上表面内设有方形下沉座，底部金属托盘设于方形下沉座内。4.如权利要求3所述的一种新型测试座，其特征在于，所述方形下沉座底部设有穿孔，且底部的两侧及两端边缘处均设有探针孔。5.如权利要求2所述的一种新型测试座，其特征在于，设于上盖内的下沉座的底部设有穿孔，且下沉座底部设有复数个探针孔，所述探针孔围合而成一个圈体，所述穿孔位于这个圈体内。
【专利摘要】本实用新型提供了一种新型测试座，包括：底座，设于底座上的托盘，底部金属托盘，由两根或以上的探针组成的探针组，上部金属托盘，上盖；所述底部金属托盘设于托盘的上表面内，上部金属托盘设于上盖的底部表面内，所述探针组的下端穿过底部金属托盘后位于托盘内，探针组的上端穿过上部金属托盘后位于上盖内；所述上部金属托盘及底部金属托盘位于底座与上盖相结合后形成的空间内。由于测试座内部测试探针采用上部金属托盘及底部金属托盘，二者用铜制成，使得相邻I/O输出的信号通过探针(probe)时不会产生串扰(crosstalk)，并吸收外界电磁场对高频信号的影响，从而保证高频信号的输出准确性。
【IPC分类】G01R1/04
【公开号】CN205246709
【申请号】CN201521070548
【发明人】罗小珊, 谢后勇
【申请人】深圳市邦乐达科技有限公司
【公开日】2016年5月18日
【申请日】2015年12月21日