一种电器件测量治具的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及半导体技术领域，尤其涉及一种电器件的测量辅助设备，特别涉及一种电器件测量治具。
【背景技术】
[0002]半导体封装工艺中需要使用到表面组装技术(SMT)贴装工艺，对于表面组装技术(SMT)工艺中防止元器件使用错误是极其重要的，所以测量各个元器件的规格是日常生产中必须进行的步骤，传统测量规格的方法是从电感电容电阻(LCR)测量表的两个极性各结一根针，然后将针头对准元器件两端进行测量，这种方法对于测量较小的元件显得很麻烦，不易准确测量。
【实用新型内容】
[0003]鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，提供一种电器件测量治具，包括:
[0004]基板，所述基板设置有测量容置空间，所述测量容置空间能够容置待测电器件；
[0005]安装在所述基板上的正极接入端和负极接入端；以及
[0006]两个测量探针，分别与所述正极接入端和所述负极接入端电连接；
[0007]其中当测量时，所述两个测量探针分别与所述测量容置空间中的待测电器件的两立而接触。
[0008]通过在电感电容电阻(LCR)测量表上引入本实用新型提供的电器件测量治具，可以使电连接电感电容电阻(LCR)测量表两电极的测量探针更准确、更轻易的接触待测电器件两端并保持稳定，使得更方便、更准确的测量电器件的参数。
【附图说明】
[0009]通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显:
[0010]图1为本实用新型实施例提供的电器件测量治具结构示意图；
[0011]图2-图5通过在电感电容电阻(LCR)测量表上引入图1提供的电器件测量治具测量电容工艺示意图；
[0012]附图标记说明:
[0013]1-基板;2-测量容置空间；3-电容;4-正极接入端;5-负极接入端
[0014]6-第一测量探针;61-第一抵触端;7-第二测量探针；
[0015]71-第二抵触端;8-第一挡块;9-第二挡块;10-弹簧；
[0016]η -连接杆；12-压杆；13-转轴；14-固定板;15-10?测量表
【具体实施方式】
[0017]下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关实用新型，而非对该实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与实用新型相关的部分。
[0018]需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。
[0019]如图1所示，本实施例提供一种电器件测量治具，包括:
[0020]基板I，基板I设置有测量容置空间2，测量容置空间2能够容置待测电器件，如电容3；
[0021 ]安装在基板I上的正极接入端4和负极接入端5;以及
[0022]两个测量探针，分别与正极接入端4和负极接入端5电连接；
[0023]其中当测量时，两个测量探针分别与测量容置空间2中的待测电器件的两端接触。
[0024]通过在电感电容电阻(LCR)测量表上引入本实用新型实施例提供的电器件测量治具，可以使电连接电感电容电阻(LCR)测量表两电极的测量探针更准确、更轻易的接触待测电器件两端并保持稳定，使得更方便、更准确的测量电器件的参数。
[0025]如图1，进一步，本实施例提供的至少一个测量探针通过安装部件可活动地安装在基板I上，以在测量探针伸入测量容置空间2的第一位置和退出测量容置空间2的第二位置之间运动。在本实施例中一个测量探针通过螺丝固定安装在基板I上，另一个测量探针通过安装部件活动安装在基板I上。第一位置是指该活动安装在基板上的测量探针能够深入到测量容置空间的最深处，第二位置是指退出测量容置空间、离测量容置空间的最远处。在测量待测电器件时，先把活动安装在基板上的测量探针退出测量容置空间，放置待测电器件，再把测量探针深入测量容置空间，这样方便待测电器件的放置。
[0026]如图1，进一步，本实施例提供的安装部件包括弹簧10和迫压装置，弹簧10安装在基板I上，迫压装置连接弹簧10和测量探针，迫压装置通过使弹簧10变形和复原来带动测量探针伸入和退出测量容置空间2。结构简单，安装简便，当测量时，撤出外力弹簧自行恢复，以使测量探针能自行深入测量容置空间。
[0027]如图1，进一步，本实施例提供的迫压装置包括压杆12和连接杆11，连接杆11一端连接弹簧1的一端，另一端与压杆12中部固定连接；
[0028]压杆12—端通过转轴13活动连接在基板I上;压杆12另一端为自由端，受外力压迫能使压杆12围绕转轴13转动；
[0029]测量探针的一端固定连接在压杆12上。
[0030]该压迫装置结构简单，使用时施力方便，且成本较低。
[0031]如图1，进一步，本实施例提供的电器件测量治具还包括固定板14，固定板14固定在基板I上，弹簧10的另一端固定在固定板14上。比较好控制弹簧的变形方向，使得弹簧的变形朝向测量容置空间，方便第二测量探针对准待测电器件。
[0032]如图1，进一步，本实施例提供的两个测量探针中的第一测量探针6可活动地安装在基板I上，第一测量探针6的第一抵触端61可活动地伸入和退出测量容置空间2;并且两个测量探针中的第二测量探针7固定安装在基板I上且第二测量探针7的第二抵触端71伸入测量容置空间2内。一个测量探针固定，一个测量探针活动，这样可以在测量时及其方便待测电器件的安装放置。
[0033]如图1，进一步，本实施例提供的第一抵触端61和第二抵触端71为圆锥形，当测量时，第一抵触端61的轴线平行于第二抵触端71的轴线。圆锥形的抵触端首先能方便的进入容置空间，其次能够比较有效的抵触待测电器件。同时平行的甚至在同一直线的两条轴线可以使待测电器件测量时受力平衡。
[0034]如图1，进一步，本实施例提供的电器件测量治具还包括第一挡块8、第二挡块9，第一挡块8和第二挡块9间隔相对固定在基板I上，第一挡块8下侧面与第二挡块9上侧面间隔相对形成测量容置空间2。上述结构简单，还可以根据待测电器件的大小来调节第一挡块和第二挡块的距离。
[0035]如图1，进一步，本实施例提供的第一挡块8下侧面与第二挡块9上侧面为垂直于基板I且相互平行的平面。方便待测电器件的放入，并能较好的保证待测电器件不被损坏。
[0036]具体使用方法:
[0037]如图2至图5所示，通过在电感电容电阻(LCR)测量表15上引入本实用新型提供的电器件测量治具测量电容的方法为:
[0038](I)如图2所示，将电器件测量治具的正、负极接入口连接在电感电容电阻(LCR)测量表15对应的正、负极。
[0039](2)如图3所示，压迫压杆12使弹簧10收缩将第一测量探针6从待测容置空间2中拔出。
[0040](3)如图4用镊子夹取电容3放入待测容置空间2中。
[0041](4)如图5松开压杆12使第一测量探针6和第二测量探针7接触电容3两端，记录电感电容电阻(LCR)测量表15读数。
[0042]以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本申请中所涉及的实用新型范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离所述实用新型构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。
【主权项】
1.一种电器件测量治具，其特征在于，包括: 基板，所述基板设置有测量容置空间，所述测量容置空间能够容置待测电器件； 安装在所述基板上的正极接入端和负极接入端；以及 两个测量探针，分别与所述正极接入端和所述负极接入端电连接； 其中当测量时，所述两个测量探针分别与所述测量容置空间中的待测电器件的两端接触。2.根据权利要求1所述的电器件测量治具，其特征在于，至少一个所述测量探针通过安装部件可活动地安装在所述基板上，以在所述测量探针伸入所述测量容置空间的第一位置和退出所述测量容置空间的第二位置之间运动。3.根据权利要求2所述的电器件测量治具，其特征在于，所述安装部件包括弹簧和迫压装置，所述弹簧安装在所述基板上，所述迫压装置连接所述弹簧和所述测量探针，所述迫压装置通过使所述弹簧变形和复原来带动所述测量探针伸入和退出所述测量容置空间。4.根据权利要求3所述的电器件测量治具，其特征在于，所述迫压装置包括压杆和连接杆， 所述连接杆一端连接所述弹簧的一端，另一端与压杆中部固定连接； 所述压杆一端通过转轴活动连接在所述基板上;所述压杆另一端为自由端，受外力压迫能使压杆围绕所述转轴转动； 所述测量探针的一端固定连接在所述压杆上。5.根据权利要求4所述的电器件测量治具，其特征在于，还包括固定板，所述固定板固定在所述基板上，所述弹簧的另一端固定在所述固定板上。6.根据权利要求2-5任一所述的电器件测量治具，其特征在于，所述两个测量探针中的第一测量探针可活动地安装在所述基板上，所述第一测量探针的第一抵触端可活动地伸入和退出所述测量容置空间；并且 所述两个测量探针中的第二测量探针固定安装在所述基板上且所述第二测量探针的第二抵触端伸入所述测量容置空间内。7.根据权利要求6所述的电器件测量治具，其特征在于，所述第一抵触端和第二抵触端为圆锥形，当测量时，第一抵触端的轴线平行于所述第二抵触端的轴线。8.根据权利要求1所述的电器件测量治具，其特征在于，还包括第一挡块、第二挡块，所述第一挡块和第二挡块间隔相对固定在所述基板上，所述第一挡块下侧面与所述第二挡块上侧面间隔相对形成所述测量容置空间。9.根据权利要求8所述的电器件测量治具，其特征在于，所述第一挡块下侧面与所述第二挡块上侧面为垂直于所述基板且相互平行的平面。
【专利摘要】本实用新型公开了一种电器件测量治具，包括：基板，基板设置有测量容置空间，测量容置空间能够容置待测电器件；安装在基板上的正极接入端和负极接入端；以及两个测量探针，分别与正极接入端和负极接入端电连接；其中当测量时，两个测量探针分别与测量容置空间中的待测电器件的两端接触。通过在电感电容电阻(LCR)测量表上引入本实用新型提供的电器件测量治具，可以使电连接电感电容电阻(LCR)测量表两电极的测量探针更准确、更轻易的接触待测电器件两端并保持稳定，使得更方便、更准确的测量电器件的参数。
【IPC分类】H01L21/66
【公开号】CN205355012
【申请号】CN201521078016
【发明人】王小康
【申请人】南通富士通微电子股份有限公司
【公开日】2016年6月29日
【申请日】2015年12月21日