技术编号:10015580
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。在半导体制造行业中,半导体芯片需进行电性能测试,以检验芯片是否满足电气性能的要求。在芯片测试过程中电流和信号需通过电子连接件实现芯片和测试线路板之间连接与传输,芯片测试机架是整个测试系统中不可缺少的一种连接测试装置,传统的芯片测试针架包括用高强度复合绝缘材料制成的芯片定位板,针架主体,探针保持板及高导电金属材料制作的弹簧探针。近年来,随着半导体芯片的核心运算速度越来越快,要求芯片测试针架能满足高频测试的要求,例如大于50千兆赫兹的信号芯片的测试。解决高速芯...
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