技术编号:10015729
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。现有技术中,大功率集成电路模拟测试机上,会进行时间参数的测量。这种测量过程中,如果使用过于频繁,或者与电源连接出现问题造成电路短路等,会造成测试电路温度快速上升,造成测试电路使用寿命降低。因此,在负载出现异常时,如何发出报警保护,是现有技术亟需解决的技术问题。发明内容为解决现有技术的不足,本实用新型的目的在于提供一种时间参数测试电路,以解决现有技术中难以实现时间参数测量过程中难以实现电路保护的技术问题。为了实现上述目标,本实用新型采用如下的技术方案时间参数...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。