技术编号：10054189
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体上非磁性涂层的厚度及非磁性金属基体上非导电覆层的厚度。涂层测厚仪探头则是其最为重要的部件，影响到测量效率及测量精度。根据测量原理，涂层测厚仪探头一般分为磁性测厚探头、涡流测厚探头、超声测厚探头。而应用最为广泛的则是磁性测厚探头和涡流测厚探头。现有的涂层测厚仪都是使用两个独立的传感器探头，一个磁性方法的探头，一个电涡流方法的探头，测量前需要先确定基本材质，并安装好探头后进行测量，选择以及装拆不便。例如中国专利CN202599...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。