技术编号：10140946
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。客户对晶体硅太阳电池组件质量及性能要求越来越高，特别是组件隐裂长时间导致局部电阻过大，从而出现太阳电池组件使用过程中出现热斑等不良问题；对组件后期使用中的可靠性能造成严重隐患，故组件生产过程中相应工序增加EL电致发光)测试工序；EL测试工序最为关键EL (测试仪检查组件电池片有无隐裂等不良类别；目前常用的两种测试仪，一种太阳电池组件全自动EL测试仪，组件经过传输台自动周转至EL测试仪内，并自动进行测试；另一种为太阳电池组件半自动EL测试仪，太阳电池组件半自...
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