技术编号:10156315
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。在工业生产和日常生活中通常要对工件和物品的表面粗糙度和厚度进行测量,现有的厚度测量方式有超声波脉冲反射、光干涉以及激光位移测厚等,不同的测量方法对应不同的技术特点以及应用范围。超声波脉冲反射以及激光位移法的精度较低,而光干涉法仅适用于透明的薄膜,且其体积较大且对环境要求高,应用起来并不方便。我们不难看出现有的厚度测量方法并不能够满足工业生产的高精度和使用便利的要求。中国公开号为CN 103499271A的专利一种厚度测量装置公开了一种采用磁性传感元件为敏感...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。