技术编号：10156696
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。光学系统的特征参数作为光学仪器设计的依据，这种特性参数主要地决定了光学系统的适用范围。焦距是光学系统重要的特性，只要知道焦距和焦点的位置，就能完全确定任何位置上的物体经过该光学系统所成像的位置、大小、正倒和虚实等全部信息。所以准备测量光学系统的焦距，不仅是验收产品，考核其是否达到设计要求的手段，而且也是发现或者找出从设计，加工到装配整个过程中所存在问题的重要方法。放大率法测量焦距，是目前在生产中最常用的焦距测量方法，因为它所需要的设备简单，测量操作比较方便...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。