技术编号：102352
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及集成电路的测试，尤其是涉及响应电路设计信息的产生测量向量的方法。由于超大规模集成电路器件的复杂性以及难于达到成品中内部导电通路，在设计阶段就经常要想方设法去确定所拟议的电路的可测试性，并设计出成套的可用测试输入或向量以检查所制造的器件中的可能故障。设计的向量，即那些准备用于电路正常操作的向量可能适宜也可能不适宜揭露电路中的隐藏故障，因这些故障只有在不寻常的操作条件下才变得明显。如果电路的输入端数很大，为揭露这些故障而应用二进制输入值的所有组合就会变得不切实际。另一种方法则利用自动测试码模式发生器，以提供一...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。