技术编号：10246733
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。随着科学的进步，电子制造技术也越来越发达，其集成化程度越来越高，工序越来越多，结构也越来越细微，制造工艺越来越复杂，错综复杂的因素势必会导致在制造过程中潜伏缺陷，作为电子产品竞争厂家，不断要保证各性能的高精准性，也要保证其质量的稳定性，所以对其做相关测试也是必要的。电子产品，不管是原件、部件、整机、设备都要进行老化测试。先老化后测试，电子产品（所有产品都这样)通过生产制造后，形成了完整的产品，已经可以发挥使用价值了，但使用以后会发现会有这样或那样的毛病，又...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。