一种用于晶圆目检的显微镜的制作方法技术资料下载

技术编号:10265288

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晶圆是指硅半导体集成电路制作所用的硅芯片,由于其形状为圆形,故称为晶圆。在硅芯片上可加工制作成各种电路组件结构,而成为有特定电性功能之IC产品。加工好的晶圆需要使用显微镜做外观检验。显微镜检验晶圆前,为防止晶圆放入显微镜载物台时,显微镜物镜镜头刮伤晶圆,要求显微镜载物台必须降到最低点,显微镜的物镜的倍率调为最低50x,后将载物台移至最右端,将晶圆放入载物台,重新将载物台移入物镜下,调整显微镜的倍数,焦距,方可开始检验动作。但是这种操作,动作要求过多,作业人...
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