技术编号:10265288
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。晶圆是指硅半导体集成电路制作所用的硅芯片,由于其形状为圆形,故称为晶圆。在硅芯片上可加工制作成各种电路组件结构,而成为有特定电性功能之IC产品。加工好的晶圆需要使用显微镜做外观检验。显微镜检验晶圆前,为防止晶圆放入显微镜载物台时,显微镜物镜镜头刮伤晶圆,要求显微镜载物台必须降到最低点,显微镜的物镜的倍率调为最低50x,后将载物台移至最右端,将晶圆放入载物台,重新将载物台移入物镜下,调整显微镜的倍数,焦距,方可开始检验动作。但是这种操作,动作要求过多,作业人...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。