技术编号：10281398
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。结构光三维测量技术以其高精度、高效率和非接触性的优点在高速检测、产品开发、质量控制、反求工程等领域得到广泛的应用和发展。在结构光三维测量实验时选用的编码结构光法需要投影编码条纹到被测物体表面，条纹携带了物体表面轮廓的三维信息，然而在工程中，特别是在现代制造业中，存在大量镜面物体需要测量，由于被测物体表面强反射特性的影响，反射到相机的光线不仅会使相机饱和，丢失条纹灰度变化信息，而且还将改变原有漫反射条纹的灰度分布，影响条纹中心提取的准确性，这些都是由于强反射...
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