技术编号:10282103
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一般来说,集成电路测试技术,为了能够高效率的测试集成电路,往往会在集成电路设计时增加可测试性电路的设计(DFT),并利用自动测试用例产生(ATPG)的方式,产生测试用例进行晶圆级的中测。这种测试方式要求被测试装置(DUT)在处于测试模式时,DUT工作电路时钟由测试仪产生的时钟来控制,而非来源于其内部的分频电路,这样内部所有逻辑、时钟与复位都可以做到外部可控制、同时外部可直接监测,具体框图如图1所示。对于产生激励(DRV)和监测信号(FB)的时序来说,每一个...
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