技术编号:10298584
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。目前,测量功函数的方法有光电子发射法、热电子发射法、场致发射法、扫描隧道显微镜以及开尔文探针法等。前面的几种方法均有一定的局限性,光电子发射法、热电子发射法、场致发射法只适合固体样品的测量。扫描隧道显微镜法则要求样品表面必须带电,故只适用于导体的测量。综上所述对于粉体类大部分绝缘体,因其表面不能导电,故上述方法均不宜采用。发明内容针对上述方法的局限性,提供了一种方便、快捷测量粉体类物质表面功函数的装置。为实现上述目的,本实用新型功函数测量装置包括屏蔽装置与...
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