技术编号：10298690
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。同种型号的芯片测试机可以测试对应该封装形式下多个引脚的芯片，比较常见的为8个引脚、14个引脚或者16个引脚。芯片进入测试区之前，是由芯片分离机构将一个一个的芯片逐一传输至芯片检测站，然而由于芯片分离机构的老化等原因，可能导致芯片分离机构同时传输两颗芯片至检测站，那么排列在后的那颗芯片将出现漏检测的情况，它将跟随前一颗芯片的测试结果进入良品或者不良品中。为解决该异常，保证每个芯片都能被正常测试到，在芯片测试机设置有光传感器，用于检测在检测站内是有一颗芯片还是...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。