技术编号：10317696
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。探针是电测试的接触媒介，探针通常包括探针壳、探针头，探针头与探针壳之间弹性连接，探针头可在探针套内伸缩。探针通常用来测试一些微型电子元器件的参数，例如测量电子元器件上两个焊点之间的电阻、电流、电压等。晶元是生产集成电路所用的载体，通常通过探针对进行检测，由于一个晶元片上存在上百个晶元，单探针检测头检测效率低，无法满足生产检测需求，需要多组探针同时检测，然而目前没有专门用于多组探针固定的夹具，即使有多组探针的检测头，检测头本身尺寸较大，无法检测晶元片上排列紧...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。