技术编号：10317799
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。目前在运算放大器投入到集成电路的应用过程之前，通常需要对运算放大器进行多参数的测试，在对每一个参数进行测试的过程中，就要提供一个测试电路，如此，则需要多个测试电路，运算放大器要频繁的更换测试电路，这测试人员来说是较为麻烦的，同时由于频繁的更换运算放大器的测试电路，会对运算放大器的造成损坏，测试效率也不高。实用新型内容针对现有技术中存在的问题，本实用新型提供了一种能够用一个高集成电路即可对运算放大器进行多个参数的测试。本实用新型采用如下技术方案—种运算放大器...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。