技术编号:10351107
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。目前,国内外一般采用“精密天平+烤箱“的灰密测量方法。该测量方法是利用停电检修的机会将外绝缘上的污秽物取回实验,把污秽物融入某一容积和某一温度下的蒸馏水中,再用滤纸把可溶性物质及水份过滤,剩下的非可溶沉积物连同滤纸放入烤箱中烘烤,用精密天平秤出烘烤后的非可溶沉积物的重量,再把此非可溶沉积物的重量(mg)除以绝缘子的表面积,即可得所求的灰密。此法的最大优点是直观易懂,但也存在以下缺点(I)将绝缘子从杆塔上拆到地面甚至运到试验室再进行测量,在拆卸或运输的过程中...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。