技术编号：10441020
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。电光强度调制的原理时利用电光晶体在外加电场作用下，折射率发生变化，从而使入射光在两主轴方向的分量产生相位延迟，经线偏振器后输出光光强与外加电场有关，即将输入电压信号转换为光强信号输出。随着现代实验和工业要求，电压测量的精度和高压电压的测量要求精密化和安全化，本发明利用电光晶体的调制作用实验电光转换的机制，加以光学测量的高精密度以及非接触型测量安全化。发明内容本发明的目的是提供一种基于纵向电光晶体调制的电压检测器和监测方法，其中使用激光器发射激光经过光路调节...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。