技术编号：10470342
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。随着无线电技术的广泛应用与不断发展，各种无线电设备的不断涌出，使得设备之间的干扰越来越严重。同时，电子技术与计算机技术的不断提高，系统的集成度越来越高，电子设备的频带日益加宽，灵敏度提高，设备间的电缆网络变得越来越复杂，因此，为了使设备能够正常工作，必须对设备的抗干扰性能进行评估，这就需要对设备进行电磁场的辐射抗干扰性实验。半电波暗室是进行辐射干扰性试验的主要场地，而场均匀性作为衡量实验场地性能的重要指标，是保证实验有效进行下去的关键，也是保证EUT在电磁...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。