技术编号:10487085
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。随着电子科技技术的进步,对电子元件表面质量的要求越来越高。现有的电子元件表面缺陷的检测通常是利用照相机拍摄出电子元件的表面情况照片,然后通过拍摄出的照片来判断电子元件的表面质量。然后,表面有划痕和表面脏污在照片中的表现及其相似,这时,容易将表面脏污的情况归类为表面有划痕的产品,对其进行表面缺陷修复或者报废。发明内容本发明所要解决的技术问题是提供一种简易的电子元件表面缺陷检测装置,其对待检测电子元件的表面进行放大,能更直观的检查电子元件的表面情况。本发明采用...
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