技术编号：10512032
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。目前，由于存储器的制造工艺不能保证存储阵列在其生命周期中保持性能的可靠，因而在存储器的生产及使用过程中会产生坏块。为了检测数据的可靠性，在应用存储器的系统中通常会采用一定的坏区管理策略，而管理坏区的前提是能比较可靠的进行坏区检测。如果操作时序和电路稳定性不存在问题的话，存储器出错的时候一般不会造成整个存储阵列不能读取或是全部出错，而是只有一个或几个比特位出错。数据校验通常包括奇偶校验、CRC校验等，而在存储器处理中，一般使用错误检查和纠正(ECC，Erro...
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