技术编号：10532785
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。全内反射荧光显微术是近年来新兴的一种光学成像技术，它利用全内反射产生的渐逝场来照明样品，从而致使在百纳米级厚的光学薄层内的荧光团受到激发，荧光成像的信噪比很高。这种方法的成像装置简单，极易和其它成像技术、探测技术相结合。目前已成功的实现100 nm甚至更低的空间分辨率。而目前微流控芯片得到了迅速发展，而今天阻碍微流控技术发展的瓶颈仍然是应用方面的问题。全内反射光学检测技术就是一项符合与微流控芯片集成的光学检测技术。但是，目前将两者集成的一体机还比较少见，缺...
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