技术编号:10533213
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。污闪问题严重威胁着我国电力系统的安全。绝缘子表面积污是发生污闪的重要过程,传统的绝缘子积污研究多在不带电条件下开展,研究表明绝缘子的带电状况对其表面积污特性有显著影响。本发明公开了一种悬式绝缘子带电积污试验装置,其原理在于通过合理的空间布置,在积污罐体里形成较为稳定的环境,同时满足电气绝缘与电场分布的要求。本发明可适用于11OkV电压等级以下悬式绝缘子的带电积污试验。发明内容发明目的本发明提供一种IlOkV悬式绝缘子带电积污试验装置,可适用于IlOkV电压...
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