技术编号：10533271
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。集成电路(IC)器件，诸如微处理器或片上系统(SOC)器件，通常包括被布置成执行特定功能的逻辑门的复杂矩阵。这些逻辑门经常以两种并行布置而互连，一个布置用于操作，而另一个布置用于测试。将多个触发器一起链接到“扫描链”中是布置用于测试的逻辑单元的一种已知方法。这种扫描链有效地形成大移位寄存器，大移位寄存器可用来获得对处于操作的测试模式的IC器件的内部节点的接入。在这种测试模式中，通常以IC器件的额定电压电平对IC器件进行供电，并在第一扫描移位阶段，以预先选定...
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