技术编号：10534004
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。在现有技术中，通过数字微镜器件对场景图像进行采样，由于光线强弱变化直接影响成像质量，所以会出现光线强时，清晰度高，光线弱时，清晰度降低，噪点增加;虽然有很多软件处理方法提高弱光线下的清晰度，但是处理效果不佳，例如，最近邻域插值方法、双线性插值方法、双立方插值方法等。双线性插值方法比最近邻域插值方法具有更高的重构准确度，图像恢复效果更佳，但图像会出现锯齿和模糊现象。虽然双立方插值方法的重构效果优于前两者，但却是以牺牲效率为代价，其所耗时间是其它方法的几倍甚至...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。