技术编号：10551732
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 在纳米科学技术的进步和不断发展过程中，两类科学仪器起了重要的推动作用， 一类是以电子束作为探针的电子显微镜，代表的有透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微 镜(SEM);另一类是以固体针尖作为探针的扫描探针显微镜(SPM)，代表性的有扫描隧道显 微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)。 但是随着微纳米器件的快速发展、以及在尺度上向纳米极限的逼近，如何表征微 纳米尺度材料、结构和器件在外场(如器件工作过程中电场、热场以及诱导的应力场)作用 下的性质、性能以...
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