技术编号：10592100
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。近红外探测器均匀性测试是指在相同光照条件下，由于像元间存在响应、噪声水平和量子效率等方面的差异，各像元输出信号不一致性的测试。近红外探测器均匀性测试为近红外探测器标定以及光电类仪器的图像质量提供了重要依据。随着光电仪器设备和用户对图像质量要求的提高，迫切需要对近红外探测器进行高精度和高稳定度的均匀性测试，以满足后续图像的处理和校正。近红外探测器的暗电流水平与工作温度直接相关，工作温度越低其暗电流水平越低，因此对近红外探测器的均匀性测试也应保证其工作在一定的...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。