技术编号：10593063
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。传统的小尺寸面板设计时，为了提升阵列(Array)阶段的制程良率，都会在面板的末端设计有阵列测试点(Array Test Pad)作为良率控制的最后屏障，当切割完成后，阵列测试及相关走线会留在面板上。为了避免其对面板正常显示时造成影响，通常设计有一个控制开关来实现关闭状态。但是，由于控制开关自身的特性，会存在一定漏电流。因此，在极性反转模式下，很容易引起相邻两条数据线之间正负极性经控制开关传递至同一阵列测试点，造成相互短路，从而影响面板的正常显示，出现泛黑...
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