技术编号:10593456
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。在现有技术中,通过数字微镜器件对场景图像进行采样,由于光线强弱变化直接影响成像质量,所以会出现光线强时,清晰度高,光线弱时,清晰度降低,噪点增加;虽然有很多软件处理方法提高弱光线下的清晰度,但是处理效果不佳,例如,最近邻域插值方法、 双线性插值方法、双立方插值方法等。双线性插值方法比最近邻域插值方法具有更高的重构准确度,图像恢复效果更佳,但图像会出现锯齿和模糊现象。虽然双立方插值方法的重构效果优于前两者,但却是以牺牲效率为代价,其所耗时间是其它方法的几倍甚...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。