技术编号：10611581
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。Margin测试一般是应用于验证产品在各种条件下能否正常工作的测试，包括最大、最小电压、负载范围、环境温度范围及其他相关参数。内存Vref是其参考电压，当往内存写数据时，内存对DQ进行采样后，需要与Vref?进行对比来确认写进来的是高电平还是低电平(同样的，读数据时，内存控制器需要参考 Vref)。内存的Vref Margin测试的是内存颗粒读写数据时的容错能力；而且如果数据线上存在一些幅度较大的噪声如glitch，在Vref■被拉高或拉低时，这些噪声可能...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。