技术编号：10617745
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。作为对于进行1C设备等电子设备的电气试验的试验装置供给以及排出电子设备的装置，已知有各种处理器。例如专利文献1公开了下述处理器，该处理器具有一个一个地把持电子设备的多个设备把持部；以及根据这些设备把持部的每一个所把持的电子设备的姿势、位置的信息而分别修正设备把持部的位置的位置修正构件。在以往的处理器中，公知有具备下述设备温度调节机构的处理器，为了能够用试验装置来实施设想了电子设备的真实使用环境的试验，在将电子设备从供给侧储存部移送至试验装置期间，上述设备温...
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