芯片压降的测量装置及方法技术资料下载

技术编号:10623898

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随着芯片制造工艺进入深亚微米时代,其发展方向通常包括提高芯片的频率和降低芯片的工作电压,然而,芯片压降直接影响芯片频率的提高。目前,通过计算芯片压降对频率的影响,在芯片的设计过程中加入余量以弥补芯片压降造成的不利影响;通常的测量电路主要包括反相器延迟链,利用该反相器延时链直接测量时钟信号的周期、频率和时钟抖动,并根据测得的该时钟信号的信息计算芯片压降。具体地,该测量电路可以设置在芯片中,在测量时通过该电路输入标准的时钟信号,从而在测量该标准时钟信号的过程中...
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