内建自测试方法、装置及片上系统的制作方法技术资料下载

技术编号:10623935

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集成电路技术已经发展到了片上系统(System on a化ip, SoC)阶段,测试是SoC 的关键技术之一。SoC中除了集成大量的数字电路知识产权(Intellectual Property, I巧 核,还集成了模拟电路或数模混合信号电路(W下简称模拟/混合信号电路)IP核。对于 模拟/混合信号电路,由于没有像数字集成电路郝样成熟的可测试性设计工具支持,因此, 研究SoC中模拟/混合信号电路的测试结构W及自测试方法,是SoC可测性设计中亟待考 虑和解决...
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