技术编号:10625515
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。快闪存储器为目前常见的非易失存储器。快闪存储器晶圆制作成型后,需作晶圆测试(wafer probing),以筛除良率不佳的晶粒。发明内容本案揭露一种快闪存储器晶圆测试方法以及机台,加速不良晶粒的筛除,解决现有技术中不良晶粒筛除效率低下的问题。根据本案一种实施方式所实现的快闪存储器晶圆测试方法包括提供一强编程化电位;提供一一般擦除电位;以及,以该强编程化电位以及该一般擦除电位反复编程化以及擦除一快闪存储器晶圆上的多个快闪存储器晶粒达N次。N值根据所述快闪存储...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术无源代码,用于学习原理,如您想要源代码请勿下载。