技术编号：10637832
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。在薄膜晶体管液晶显不器(ThinFilm Transistor Liquid Crystal Display，以下简称TFT-LCD)的制备工艺中，在阵列基板的制备完成后，为了保证产品的质量，需要采用阵列基板的检测设备对阵列基板上的线路和像素进行检测，确定线路是否存在短路、断路以及是否存在不良像素等问题，以筛选出不合格的产品。如图1和图2所示，阵列基板的检测设备中一般包括探针单元I和用于产生驱动信号的信号发生器，其中，探针单元I包括多个探针11和与多个探针...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。