技术编号：10651457
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。当前LED测试机在测试芯粒过程中需要使用光谱仪测试芯粒各项光参数。由于LED芯粒规格不同，为了使测试机能够兼容各种不同芯粒测试，需要对不同亮度光进行衰减处理，使衰减后的光处于测试的正常范围内。现阶段通常使用的是手动推拉式更改不同衰减档位的方式，以适应不同规格芯粒的测试。不同档位需要测试人员手动切换，容易发生档位切换错误，以及在切换过程中受外力影响导致积分球与光纤位置发生变化，最终导致测试一致性降低，甚至出现错误，影响测试效果。如图1和图2所示，一种现在普遍...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。