技术编号:10651871
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 弥散介质内部光学参数分布的重建是通过分析介质边界的测量信号来反演内部 光学参数场,由于介质内部的吸收、散射系数分布与介质内部的结构相关,所以弥散介质内 部吸收、散射系数的重建技术有助于探测介质内部几何结构。作为一种有效的探测技术,弥 散介质光学参数场重建广泛应用于无损探测、光学成像、红外遥感、信息处理和故障诊断等 领域。 近红外激光作用于弥散介质,会得到与介质内部吸收、散射系数分布相关的辐射 信号,所以重建介质内部吸收、散射系数首先需要建立模拟激光在介质...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。