技术编号:10666058
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 高K金属栅极(HKMG)技术和嵌入式锗硅技术(简称锗硅技术)是半导体领域的 重要技术。在高K金属栅极技术中,高K介电层和金属栅极是最重要的部件,通常选用较厚 的高K介电材料来代替SiO 2,以获得更低的漏电流。选择与功函数层相匹配的包含所述高 K介电层的金属栅极。在所述高K介电层上方通常会形成TiN,用于在先高K介电层后金属 栅极工艺中去除虚拟栅极的过程中保护所述高K介电层,此外TiN还在NMOS和/或PMOS 中用作功函数层,TiN还作为最接近衬底的材...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。