技术编号:10691964
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。开发了一种用于检测发光二极管的故障的技术。作为检测构成发光二极管阵列的发光二极管的开路故障的技术,例如能够列举专利文献I中记载的技术,该发光二极管阵列是将多个发光二极管串联连接而得到的。专利文献I日本特开2007-305929号公报发明内容发明要解决的问题例如在使用专利文献I所记载的技术的情况下,通过检测连接于发光二极管的电阻中没有电流流动这一情况来检测发光二极管的故障。由此,在使用例如专利文献I所记载的技术的情况下,在发光二极管通过脉宽调制(Pulse ...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。