技术编号：10722294
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。目前，在基板的制作工艺中有时会存在一些短路、断路等不良现象。为了及时发现基板制作存在的各种不良，确保基板的质量，需要实时对基板进行检测，以确定其中是否存在不良现象，以保证基板的正常显示。目前可以采用光学检测设备对基板进行检测，现有的光学检测设备主要依靠单一的发光二极管LED冷光源(发出单色光，如红光、绿光或蓝光)或者金属灯(发出白光)对待测基板进行检测，采用的是检测光(某种单色光或白光)直接垂直照射至待测基板(如阵列基板)上，然后接收从待测基板表层反射回来...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。