技术编号:10722397
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。显不器,不管是TFT-LCD(ThinFi ImTrans i storLiquidCry stalDi sp lay,薄膜晶体管液晶显示器)还是0LED(0rganic Light-Emitting D1de,有机电激光显示),在生产时,往往难以避免存在一些缺陷。为了修复缺陷,首先需要找到缺陷所在的位置,一般情况下缺陷的位置坐标可以由自动光学检测(AOI)设备读取,但是往往该缺陷并不是在修复设备的小倍率目视镜头的视野的中间位置上。为了将该缺陷位置移至目视...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。