技术编号:10723050
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。现有的LED测试扎针位置校正装置往往只具有一对(两个)LED探针,在进行LED芯粒扎针测试时,每次只能对一个LED芯粒完成测试。这样测试的效率低下。发明内容为了提高LED芯粒测试效率,需要增加更多对的LED探针,但是经过研究发现增加LED探针对后,存在如下冋题如图1所示,是理想状态下,LED芯粒板经过切割后每个芯粒的状态,现有的LED测试扎针位置校正装置仅仅具有一对(两个)手动调节的LED探针(不具有电机驱动),每次只能对一个LED芯粒进行扎针测试,这时候...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。