一种新型原子荧光分光光度计专用进样试管架的制作方法技术资料下载

技术编号:10745246

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原子荧光光谱分析(AFS)是20世纪60年代中期提出并发展起来的光谱分析技术,它是原子吸收和原子发射光谱的综合与发展,是一种优良的痕量分析技术,常用来进行环境中重金属元素含量的检测。但是在利用原子荧光分光光度计检测的过程中,通常要测很多组样品,每一组样品中要加多种化学试剂,容易发生漏加和多加试剂的情况;在加试剂的过程中化学试剂的滴落会造成试验台的腐蚀;并且现有的原子荧光进样用试管架的型号偏大,当检测的样品比较少时会导致试管架的利用率不高。发明内容本实用新型...
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