技术编号：10767618
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。透射电子显微镜采用电子束作为光源从而得到极高的细节分辨能力，使其成为可以直观地检测到晶体材料原子结构信息的重要工具。通过透射电子显微镜，不仅可以获得带有晶体结构信息的高分辨照片，也可以给出纳米尺度选区的电子衍射。透射电子显微镜主要由电子源、电磁透镜系统、样品台以及成像系统等部分组成。入射电子从电子源出发经过电磁透镜系统聚焦后穿过样品台上的试样，形成试样微区域的图像或电子衍射，通过倾斜样品重构出三维图像。随着样品制备使用定位制备的FIB技术越来越多，对样品杆...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。